|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Super-Resolution Defect Characterization Using Microwave Near-Field Resonance Reflectometry and Cross-correlation Image Processing |
| Auteur: |
Malyuskin, Oleksandr Fusco, Vincent |
| Verschenen in: |
Sensing and imaging |
| Paginering: | Jaargang 18 (2017) nr. 1 pagina's 1-11 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |