|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Conducting Probe Atomic Force Microscope as a Relevant Tool for Studying Some Phenomena in MEMS Switches |
| Auteur: |
Peschot, A. Vincent, M. Poulain, C. Mariolle, D. Houzé, F. Delamare, J. |
| Verschenen in: |
Sensing and imaging |
| Paginering: | Jaargang 16 (2015) nr. 1 pagina's 1-10 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |