|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Automatic inspection of the width and gap of etching transistors in TFT-LCD panels using sub-pixel accuracy estimation |
| Auteur: |
Lin, Chern-Sheng Tsai, Chia-Wen Lu, Ying-Cherng Tsou, Chingfu Chang, Su-Chi |
| Verschenen in: |
The international journal of advanced manufacturing technology |
| Paginering: | Jaargang 35 (2006) nr. 1-2 pagina's 127-134 |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, London |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |