|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
A WIP-based exception-management model for integrated circuit back-end production processes |
| Auteur: |
Guo, Ruey-Shan Chiang, David M. Pai, Fan-Yun |
| Verschenen in: |
The international journal of advanced manufacturing technology |
| Paginering: | Jaargang 33 (2006) nr. 11-12 pagina's 1263-1274 |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, London |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |