|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
A feature-based inspection planning system for coordinate measuring machines |
| Auteur: |
Cho, Myeong-Woo Lee, Honghee Yoon, Gil-Sang Choi, Jinhwa |
| Verschenen in: |
The international journal of advanced manufacturing technology |
| Paginering: | Jaargang 26 (2005) nr. 9-10 pagina's 1078-1087 |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |