|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
A fast full-field 3D measurement system for BGA coplanarity inspection |
| Auteur: |
Yen, H.-N. Tsai, D.-M. |
| Verschenen in: |
The international journal of advanced manufacturing technology |
| Paginering: | Jaargang 24 (2004) nr. 1-2 pagina's 132-139 |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, London |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |