|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 60 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect inspection in semiconductor images using FAST-MCD method and neural network |
| Auteur: |
Yu, Jinkyu Han, Songhee Lee, Chang-Ock |
| Verschenen in: |
The international journal of advanced manufacturing technology |
| Paginering: | Jaargang 129 () nr. 3-4 pagina's 1547-1565 |
| Jaar: |
2023-10-03 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer London, London |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 60 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |