|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 60 van 61 gevonden artikelen
| Titel: |
Wafer particle inspection technique using computer vision based on a color space transform model |
| Auteur: |
Chun, Heebum Wang, Jingyan Kim, Jungsub Lee, ChaBum |
| Verschenen in: |
The international journal of advanced manufacturing technology |
| Paginering: | Jaargang 127 () nr. 11-12 pagina's 5063-5071 |
| Jaar: |
2023-07-05 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer London, London |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 60 van 61 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |