|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 55 van 62 gevonden artikelen
| Titel: |
Resolving measurement ambiguity in diffractive image microscopy for 6DOF surface measurement using designed aberration and multiple-layer perceptron |
| Auteur: |
Wu, Guo-Wei Chen, Liang-Chia |
| Verschenen in: |
The international journal of advanced manufacturing technology |
| Paginering: | Jaargang 126 () nr. 1-2 pagina's 583-592 |
| Jaar: |
2023-03-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer London, London |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 55 van 62 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |