|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Narrow gap deviation detection in Keyhole TIG welding using image processing method based on Mask-RCNN model |
| Auteur: |
Chen, Yunke Shi, Yonghua Cui, Yanxin Chen, Xiyin |
| Verschenen in: |
The international journal of advanced manufacturing technology |
| Paginering: | Jaargang 112 () nr. 7-8 pagina's 2015-2025 |
| Jaar: |
2021-01-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer London, London |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |