|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Dependence of the contact line roughness exponent on the contact angle on substrates with dilute mesa defects: numerical study |
| Auteur: |
Iliev, Stanimir Pesheva, Nina Iliev, Pavel |
| Verschenen in: |
European physical journal. E, Soft matter |
| Paginering: | Jaargang 45 () nr. 8 pagina's xx |
| Jaar: |
2022-08-08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |