|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Measuring thin films using quantitative frustrated total internal reflection (FTIR) |
| Auteur: |
Shirota, Minori van Limbeek, Michiel A. J. Lohse, Detlef Sun, Chao |
| Verschenen in: |
European physical journal. E, Soft matter |
| Paginering: | Jaargang 40 (2017) nr. 5 pagina's 1-9 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |