Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 5 van 27 gevonden artikelen
 
 
  Comparative analysis of breakdown mechanism in thin SiO2 oxide films in metal–oxide–semiconductor structures under the action of heavy charged particles and a pulsed voltage
 
 
Titel: Comparative analysis of breakdown mechanism in thin SiO2 oxide films in metal–oxide–semiconductor structures under the action of heavy charged particles and a pulsed voltage
Auteur: Zinchenko, V. F.
Lavrent’ev, K. V.
Emel’yanov, V. V.
Vatuev, A. S.
Verschenen in: Technical physics
Paginering: Jaargang 61 (2016) nr. 2 pagina's 187-193
Jaar: 2016
Inhoud:
Uitgever: Pleiades Publishing, Moscow
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 5 van 27 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland