|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of reliability of semiconductor emitters with different designs of cavities |
| Auteur: |
Ivanov, A. V. Kurnosov, V. D. Kurnosov, K. V. Kurnyavko, Yu. V. Lobintsov, A. V. Meshkov, A. S. Penkin, V. N. Romantsevich, V. I. Uspenskii, M. B. Chernov, R. V. |
| Verschenen in: |
Technical physics |
| Paginering: | Jaargang 61 (2016) nr. 10 pagina's 1525-1530 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pleiades Publishing, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |