|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of the optical and structural properties of oxide films on InP using spectroscopic ellipsometry |
| Auteur: |
Shvets, V. A. Rykhlitskii, S. V. Mittova, I. Ya. Tomina, E. V. |
| Verschenen in: |
Technical physics |
| Paginering: | Jaargang 58 (2013) nr. 11 pagina's 1638-1645 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |