|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of structural defects in boron-implanted silicon single crystals on the basis of the results of double-and triple-crystal x-ray diffractometry |
| Auteur: |
Petrakov, A. P. Tikhonov, N. A. Shilov, S. V. |
| Verschenen in: |
Technical physics |
| Paginering: | Jaargang 43 (1998) nr. 6 pagina's 696-700 |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Nauka/Interperiodica, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 27 gevonden artikelen
| volgende >> |