|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
A variable-level automated defect identification model based on machine learning |
| Auteur: |
Zhang, Yuwei Xing, Ying Gong, Yunzhan Jin, Dahai Li, Honghui Liu, Feng |
| Verschenen in: |
Soft computing |
| Paginering: | Jaargang 24 () nr. 2 pagina's 1045-1061 |
| Jaar: |
2019-03-23 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |