|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Thickness measurement of GaN epilayer using high resolution X-ray diffraction technique |
| Auteur: |
Feng, Gan Zhu, Jianjun Shen, Xiaoming Zhang, Baoshun Zhao, Degang Wang, Yutian Yang, Hui Liang, Junwu |
| Verschenen in: |
Science in China. Series G, Physics, Mechanics and Astronomy |
| Paginering: | Jaargang 46 () nr. 4 pagina's 437-440 |
| Jaar: |
2007-08-15 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Science in China Press, Beijing |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |