|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Exact tests for the rasch model via sequential importance sampling |
| Auteur: |
Chen, Yuguo Small, Dylan |
| Verschenen in: |
Psychometrika |
| Paginering: | Jaargang 70 (2005) nr. 1 pagina's 11-30 |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |