|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 59 van 100 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of FOM, Sensitivity, and Refractive Index in Silicon Optical Fiber Based on Circuit Model |
| Auteur: |
Afroozeh, Abdolkarim |
| Verschenen in: |
Plasmonics |
| Paginering: | Jaargang 20 () nr. 7 pagina's 5409-5416 |
| Jaar: |
2025-01-07 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 59 van 100 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |