|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 31 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Spectral ellipsometry as a method for characterization of nanosized films with ferromagnetic layers |
| Auteur: |
Hashim, H. Singkh, S. P. Panina, L. V. Pudonin, F. A. Sherstnev, I. A. Podgornaya, S. V. Shpetnyi, I. A. Beklemisheva, A. V. |
| Verschenen in: |
Physics of the solid state |
| Paginering: | Jaargang 59 (2017) nr. 11 pagina's 2211-2215 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pleiades Publishing, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 31 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |