|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray diffractometry and electron microscopy of porous silicon layers at different stages of oxidation in air |
| Auteur: |
Ratnikov, V. V. Sorokin, L. M. Sokolov, V. I. Kalmykov, A. E. |
| Verschenen in: |
Physics of the solid state |
| Paginering: | Jaargang 51 (2009) nr. 12 pagina's 2429-2436 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
SP MAIK Nauka/Interperiodica, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |