|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 35 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray diffractometric study of the influence of a buffer layer on the microstructure of molecular-beam epitaxial InN layers of different thicknesses |
| Auteur: |
Ratnikov, V. V. Mamutin, V. V. Vekshin, V. A. Ivanov, S. V. |
| Verschenen in: |
Physics of the solid state |
| Paginering: | Jaargang 43 (2001) nr. 5 pagina's 949-954 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Nauka/Interperiodica, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 35 van 35 gevonden artikelen
| << vorige |