|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray measurement of a microdistortion tensor and its application in an analysis of the dislocation structure of thick GaN layers obtained by hydrochloride gaseous-phase epitaxy |
| Auteur: |
Ratnikov, V. V. Kyutt, R. N. Shubina, T. V. |
| Verschenen in: |
Physics of the solid state |
| Paginering: | Jaargang 42 (2000) nr. 12 pagina's 2204-2210 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Nauka/Interperiodica, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 22 gevonden artikelen
| << vorige |