|
Nonthermal Mechanism of Defect Formation in the CdHgTe Semiconductor on Exposure to Soft X-rays |
|
|
|
Titel: |
Nonthermal Mechanism of Defect Formation in the CdHgTe Semiconductor on Exposure to Soft X-rays |
Auteur: |
Ramakoti, R. Sh. Anan’in, O. B. Melekhov, A. P. Gerasimov, I. A. Bogdanov, G. S. Sredin, V. G. Novikov, I. K. Frolova, I. V. Dzhumaev, P. S. |
Verschenen in: |
Physics of atomic nuclei |
Paginering: |
Jaargang 82 () nr. 11 pagina's 1571-1575 |
Jaar: |
2020-03-19 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Pleiades Publishing, Moscow |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|