|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Accuracy of ellipsometric monitoring during growth of semiconductor nanostructures |
| Auteur: |
Shvets, V. A. |
| Verschenen in: |
Optics and spectroscopy |
| Paginering: | Jaargang 107 (2009) nr. 5 pagina's 780-783 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
SP MAIK Nauka/Interperiodica, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 23 gevonden artikelen
| volgende >> |