|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Interferometric thickness measurement of glass plate by phase-shifting analysis using wavelength scanning with elimination of bias phase error |
| Auteur: |
Kim, Sungtae Kim, Yangjin Shin, Sung-Chul Hibino, Kenichi Sugita, Naohiko |
| Verschenen in: |
Optical review |
| Paginering: | Jaargang 28 () nr. 1 pagina's 48-57 |
| Jaar: |
2021-01-24 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Japan, Tokyo |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |