|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Frequency scanning interferometry with nanometer precision using a vertical-cavity surface-emitting laser diode under scanning speed control |
| Auteur: |
Kakuma, Seiichi |
| Verschenen in: |
Optical review |
| Paginering: | Jaargang 22 (2015) nr. 6 pagina's 869-874 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Japan, Tokyo |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |