|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Infrared-light interferometry and a phase-stepping algorithm for measuring the three-dimensional topography of components covered with GaAs or Si |
| Auteur: |
Chou, Xiujian Niu, Kangkang Liu, Yi Xue, Chenyang Liu, Jun Zhang, Wendong |
| Verschenen in: |
Optical review |
| Paginering: | Jaargang 19 (2012) nr. 1 pagina's 34-38 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Optical Society of Japan, Japan |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |