|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of piecewise linear regression twice to inspect the defective regions on thin film transistor liquid crystal display panels |
| Auteur: |
Jung, Chang-Do Kim, Hyunduk Kim, Se-Yun Lim, Yongdo Park, Kil-Houm |
| Verschenen in: |
Optical review |
| Paginering: | Jaargang 18 (2011) nr. 4 pagina's 351-356 |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Optical Society of Japan, Japan |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |