Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 19 van 22 gevonden artikelen
 
 
  System for measuring optical admittance of a thin film stack
 
 
Titel: System for measuring optical admittance of a thin film stack
Auteur: Chen, Sheng-Hui
Wu, Kai
Kuo, Chien-Cheng
Ma, Sheng-Ju
Lee, Cheng-Chung
Verschenen in: Optical review
Paginering: Jaargang 16 (2009) nr. 4 pagina's 479-482
Jaar: 2009
Inhoud:
Uitgever: Optical Society of Japan, Japan
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 19 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland