|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability assessment for development of microtechnologies |
| Auteur: |
Evans, J. W. Evans, J. Y. |
| Verschenen in: |
Microsystem technologies |
| Paginering: | Jaargang 3 (1997) nr. 4 pagina's 145-154 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |