|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Material loss of silicon nitride thin films in a simulated ocular environment |
| Auteur: |
Schade, Christoph Phan, Alex Joslin, Kevin Talke, Frank E. |
| Verschenen in: |
Microsystem technologies |
| Paginering: | Jaargang 27 () nr. 6 pagina's 2263-2268 |
| Jaar: |
2020-11-17 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |