|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of electrical/analog performance and reliability of gate metal and source pocket engineered DG-TFET |
| Auteur: |
Madan, Jaya Pandey, Rahul Sharma, Rajnish Chaujar, Rishu |
| Verschenen in: |
Microsystem technologies |
| Paginering: | Jaargang 27 () nr. 11 pagina's 4073-4085 |
| Jaar: |
2020-04-18 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |