Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 13 van 35 gevonden artikelen
 
 
  Effect of 3 nm gate length scaling in junctionless double surrounding gate SiNT MOSFET by using triple material gate engineering
 
 
Titel: Effect of 3 nm gate length scaling in junctionless double surrounding gate SiNT MOSFET by using triple material gate engineering
Auteur: Sanjay,
Prasad, B.
Vohra, Anil
Verschenen in: Microsystem technologies
Paginering: Jaargang 27 () nr. 10 pagina's 3869-3874
Jaar: 2021-01-20
Inhoud:
Uitgever: Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 13 van 35 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland