|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
The effects on residual stress in multilayer NTC thermistors during soldering process and bending test (I. soldering process) |
| Auteur: |
Yu, Nam Chol Ri, Yong Ho Kim, Chol Man |
| Verschenen in: |
Microsystem technologies |
| Paginering: | Jaargang 26 () nr. 12 pagina's 3765-3771 |
| Jaar: |
2020-05-11 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |