|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
A modelling and simulation approach for radio frequency (RF) parasitic effects reduction in wafer-level packaging (WLP) of RF-MEMS passive components |
| Auteur: |
Iannacci, J. |
| Verschenen in: |
Microsystem technologies |
| Paginering: | Jaargang 26 () nr. 12 pagina's 3839-3845 |
| Jaar: |
2020-05-18 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |