|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Alterations in the complex refractive index of copper oxide thin films as sensing effect for hydrogen sulfide monitoring |
| Auteur: |
Kneer, Janosch Boxberg, Manuel Busch, Sebastian Eberhardt, André Palzer, Stefan Wöllenstein, Jürgen |
| Verschenen in: |
Microsystem technologies |
| Paginering: | Jaargang 20 (2013) nr. 4-5 pagina's 607-613 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |