|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Deposition property investigation of a focused ion beam for a high-aspect-ratio metal tip |
| Auteur: |
Choi, Dae Keun Lee, Sang Hoon |
| Verschenen in: |
Microsystem technologies |
| Paginering: | Jaargang 19 (2012) nr. 3 pagina's 363-370 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |