|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of astigmatic method and snell’s law on the thickness and refractive index measurement of a transparent plate |
| Auteur: |
Liu, Chien-Hung Liu, Chin-Chia Huang, Wei-Chuan |
| Verschenen in: |
Microsystem technologies |
| Paginering: | Jaargang 19 (2013) nr. 11 pagina's 1761-1766 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |