|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability of Pt ohmic contact on an undoped 3C-SiC micro-electrothermal device |
| Auteur: |
Hassan, Musaab |
| Verschenen in: |
Microsystem technologies |
| Paginering: | Jaargang 17 (2010) nr. 1 pagina's 15-18 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |