|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Identification of mechanical defects in MEMS using dynamic measurements for application in production monitoring |
| Auteur: |
Gerbach, Ronny Ebert, Matthias Brokmann, Geert Hein, Thomas Bagdahn, Joerg |
| Verschenen in: |
Microsystem technologies |
| Paginering: | Jaargang 16 (2010) nr. 7 pagina's 1251-1257 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |