|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
A nano-metrology system with a two-dimensional combined optical and X-ray interferometer and an atomic force microscope |
| Auteur: |
Park, Jinwon Lee, Moo-Yeon Lee, Dong-Yeon |
| Verschenen in: |
Microsystem technologies |
| Paginering: | Jaargang 15 (2009) nr. 12 pagina's 1879-1884 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |