|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Focused ion beam core hole drilling for stress detection in thin-films |
| Auteur: |
Gerdes, H. Gatzen, H. H. |
| Verschenen in: |
Microsystem technologies |
| Paginering: | Jaargang 15 (2008) nr. 1 pagina's 151-153 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |