|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 6 gevonden artikelen
| Titel: |
A new characterization of the Gamma distribution and associated goodness-of-fit tests |
| Auteur: |
Betsch, Steffen Ebner, Bruno |
| Verschenen in: |
Metrika |
| Paginering: | Jaargang 82 (2019) nr. 7 pagina's 779-806 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 6 gevonden artikelen
| volgende >> |