|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
A nondestructive automated defect detection system for silicon carbide wafers |
| Auteur: |
Kubota, Toshiro Talekar, Parag Ma, Xianyun Sudarshan, Tangali S. |
| Verschenen in: |
Machine vision and applications |
| Paginering: | Jaargang 16 (2005) nr. 3 pagina's 170-176 |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |