|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Enhancing supervised bug localization with metadata and stack-trace |
| Auteur: |
Wang, Yaojing Yao, Yuan Tong, Hanghang Huo, Xuan Li, Ming Xu, Feng Lu, Jian |
| Verschenen in: |
Knowledge and information systems |
| Paginering: | Jaargang 62 () nr. 6 pagina's 2461-2484 |
| Jaar: |
2020-02-12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer London, London |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |