|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Non-destructive measurement of soybean leaf thickness via X-ray computed tomography allows the study of diel leaf growth rhythms in the third dimension |
| Auteur: |
Pfeifer, Johannes Mielewczik, Michael Friedli, Michael Kirchgessner, Norbert Walter, Achim |
| Verschenen in: |
Journal of plant research |
| Paginering: | Jaargang 131 (2017) nr. 1 pagina's 111-124 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Japan, Tokyo |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |