|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Exploring the potential of deep learning and machine learning techniques for randomness analysis to enhance security on IoT |
| Auteur: |
Ince, Kenan |
| Verschenen in: |
International journal of information security |
| Paginering: | Jaargang 23 () nr. 2 pagina's 1117-1130 |
| Jaar: |
2023-11-22 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |