|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
DAPP: automatic detection and analysis of prototype pollution vulnerability in Node.js modules |
| Auteur: |
Kim, Hee Yeon Kim, Ji Hoon Oh, Ho Kyun Lee, Beom Jin Mun, Si Woo Shin, Jeong Hoon Kim, Kyounggon |
| Verschenen in: |
International journal of information security |
| Paginering: | Jaargang 21 () nr. 1 pagina's 1-23 |
| Jaar: |
2021-02-13 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |